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SWIFT PRO EDGE 專為汽車車燈檢測校準意大利一級汽車供應商馬瑞利需要一套可靠的測量解決方案，以支持其尾燈總成所用塑料部件的生產線。Vision Engineering 與 DOGA Maroc 合作，為 Swift PRO Edge 系統(tǒng)提供了現場校準與支持。DOGA Maroc 是一家在當地擁有汽車系統(tǒng)和工業(yè)集成技術專長的合作伙伴。該系統(tǒng)安裝在丹吉爾汽車城內的一個基地，該城市是北非汽車行業(yè)具有重要戰(zhàn)略意義的樞紐。

20262-9
無目鏡光學顯微鏡應用于芯片治具檢測隨著AI數據中心的規(guī)?；ㄔO，GPU和高帶寬內存（HBM）等高性能芯片的需求呈爆發(fā)式增長。芯片的可靠性與性能直接關系到數據中心算力與穩(wěn)定性，而芯片治具作為芯片制造與質檢中的關鍵輔助工具，其精度與可靠性尤為關鍵。

20262-2
可焊性標準的差異 - IPC與MIL從表面上看，“可焊性標準”似乎只是幾份文檔或幾套流程的差異；但在工程實踐里，MIL 與 IPC 之間的那點不同，背后是一整套對風險、成本和責任邊界完全不同的價值觀。要理解為什么 MIL 的要求往往顯得更嚴格、更謹慎，就必須先看清這兩套標準各自是為誰服務、在什么場景下被執(zhí)行。

202512-16
在實際應用中，如何根據不同半導體工藝節(jié)點選擇Infratec的合適型號？為不同半導體工藝節(jié)點選擇Infratec設備，關鍵在于匹配缺陷的物理尺度、熱信號強度以及分析的深度要求。下面這個表格匯總了針對不同工藝節(jié)點的核心考量與推薦型號，你可以快速了解其對應關系。

202512-12
鎖相熱成像技術（Lock-in Thermography, LIT）與其他無損檢測方法的詳細對比分析無損檢測技術是現代工業(yè)高質量發(fā)展的基石，而在這一精密領域，德國Infratec公司憑借其先進的紅外熱成像與探測技術，在半導體制造、工業(yè)安全等多個高端領域開辟了獨特的應用前景。本文將深入探討Infratec不同型號紅外攝像頭和探測器的技術特點，并結合實際案例展示其在各行業(yè)中的創(chuàng)新應用。

202512-11
Lit技術與EMMI、OBRICH在半導體檢測中的具體差異LIT（鎖相熱成像）、EMMI（微光顯微鏡）和OBIRCH（光學束誘導電阻變化）三種技術在半導體失效分析中的核心差異對比，結合技術原理、檢測能力與應用場景進行系統(tǒng)解析：

202512-6
Infratec選型推薦針對不同規(guī)模半導體企業(yè)和科研機構，Infratec紅外檢測設備的選型推薦方案，結合技術特性、應用場景及成本效益進行系統(tǒng)分析

202512-1
Infratec紅外技術LIT技術在具體半導體失效分析案例中的診斷流程LIT技術通過周期性激勵-鎖相提取-相位深度分析的三步流程，解決了高端芯片中微弱熱缺陷的定位難題。

202512-1
Innolot 焊料：高溫高可靠的無鉛焊料電子制造業(yè)自2000年代以來經歷了從含鉛焊料向無鉛焊料的重大轉變。傳統(tǒng)的錫鉛焊料（Sn-37Pb）具有良好的潤濕性和可靠性，尤其在高溫下性能穩(wěn)定，但由于鉛的毒性和環(huán)保法規(guī)（如RoHS指令）的限制，被迫逐步淘汰。無鉛焊料以錫基合金（常見為Sn-Ag-Cu三元合金，簡稱SAC）取代錫鉛焊料，最常用的如SAC305（Sn-3.0Ag-0.5Cu）或SAC405等。

20259-28
破解SiP失效分析難題：InfraTec熱成像顯微鏡如何將3周診斷縮短至2天？——以某國際大廠MLCC故障排查為例

20258-27
等離子開封技術在高可靠封裝中的優(yōu)勢及應用隨著汽車電子、工業(yè)控制及功率器件等領域對半導體可靠性要求的不斷提高，封裝失效分析面臨著更大的挑戰(zhàn)。新型高可靠封裝結構采用了更加復雜的材料和設計，例如使用銅線或銀線鍵合、多芯片堆疊封裝以及高耐溫的新型模塑料等。

20258-25
從缺陷防控到標準升級：可焊性在現代電子制造中的關鍵作用焊點可焊性直接決定了焊接連接的質量優(yōu)劣，進而顯著影響電子產品的可靠性?？珊感圆蛔銜l(fā)多種焊接缺陷，典型的包括虛焊（干焊、假焊）、冷焊、開路、空洞(氣泡)、微裂紋等。下面我們會逐一介紹這些缺陷及其對產品性能和壽命的影響。

20258-2
現代電子制造中對可焊性提出更高要求的必然性可焊性通常指電子元器件引腳、印制板焊盤及焊料在規(guī)定工藝條件下形成良好焊接連接的能力，它直接關系到電子產品組裝中焊點質量和可靠性。焊接是電子制造中關鍵環(huán)節(jié)，據統(tǒng)計約有 60%?的電子產品早期失效與焊接質量問題有關。

20257-19
超聲波顯微鏡工作原理超聲波顯微鏡的發(fā)展歷史可以追溯到19世紀末和20世紀初，這一時期物理學上發(fā)現了壓電效應與反壓電效應，這為利用電子學技術產生超聲波提供了可能，從而揭開了超聲技術發(fā)展的序幕。

20257-17
芯片開蓋機在數據恢復中的輔助作用雖然芯片開蓋機在數據恢復中的輔助作用并不直接或顯著，但在特定情境下（如存儲設備芯片級故障時），了解芯片開蓋技術可能對數據恢復工作具有一定的啟示意義。

20255-28

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